光時(shí)域反射儀SLD-WL1007

產(chǎn)品描述

利用光在光纖中傳播時(shí)產(chǎn)生的后向散射光來獲取衰減的信息，可用于測量光纖衰減、接頭損耗、光纖故障點(diǎn)定位以及了解光纖沿長度的損耗分布情況等

規(guī)格參數(shù)

1310/1550nm 35/34dB OTDR，含紅光源測試功能，光源和光功率，智能光鏈路拓?fù)浞治鰞x、0.6m事件盲區(qū)，3cm的采樣分辨率和動態(tài)范圍完美結(jié)合，事件盲區(qū) ≤0.6m.衰減盲區(qū) ≤3.5m，衰耗分辨率 0.001dB，線性度 ±0.03 dB/dB，測量時(shí)間實(shí)時(shí)5s-180s;可選配400倍光纖端面顯微鏡，支持FC,SC,LC,ST等各種光纖接口。

符合IEC 68-2-6；IEC 61326-1；EN61010-1；EN60825-1標(biāo)準(zhǔn)